Ридер фотометр микропланшетный автоматический Tecan Sunrise

Описание Tecan Austria Sunrise

Tecan Austria Sunrise – это абсорбционный микропланшетный ридер для 96-луночных планшетов. Позволяет считывать результаты иммуноферментных анализов, кинетических реакций и проводить измерения на трёх и более длинах волн одновременно.

Sunrise может поставляться как с сенсорным экраном для полноценной работы без компьютера, так и контролироваться с ПК. Sunrise может быть оснащён опциями контроля температуры до +42 °С, градиентным фильтром, позволяющим измерять спектры, а также встроенным сканером штрихкодов.

Мощное программное обеспечение Magellan, поставляемое с этим прибором, позволяет обсчитывать результаты качественных и количественных анализов, делать нелинейные аппроксимации экспериментальных данных и рассчитывать различные показатели на их основе.

Преимущества Tecan Austria Sunrise

Возможно выбрать оптическую конфигурацию

• Оптика с четырьмя фильтрами — сменные четырехпозиционные фильтры для типичных рутинных применений с общей емкостью 32 фильтра;
• Оптика с шестью фильтрами — эта опция особенно полезна для автоматизации ELISA или интеграции в платформы, позволяя проводить несколько анализов без замены слайдов фильтра;
• Оптика с настраиваемой длиной волны — слайд градиентного фильтра, обеспечивающий немедленный доступ к выбору 301 длины волны для максимальной гибкости сканирования длины волны.

Технические характеристики Tecan Austria Sunrise

• Оптическая система: 12 измерительных каналов, 1 референсный канал
• Диапазон длин волн: От 340 до 750 нм
• Выбор длины волны: Интерференционные фильтры (картридж на 4 или 6 фильтров) с полосой пропускания 10 нм
• Диапазон измерений: От 340 до 399 нм: от 0 до 3,0 ед. ОП; от 400 до 750 нм: от 0 до 4,0 ед. ОП
• Время измерения: На одной длине волны: 6 секундНа двух длинах волн: 8 секундКинетический интервал: 5 секунд
• Точность
  • От 0 до 2,0 ед. ОП/492 нм: ≤ ± (1,0% + 0,010 ед. ОП)
  • От 2,0 до 3,0 ед. ОП/492 нм: ≤ ± (1,5% + 0,010 ед. ОП)
• Линейность
  • От 340 до 399 нм В диапазоне от 0 до 2,0 ед. ОП: ≤ ±2%
  • От 400 до 750 нм В диапазоне от 0 до 2,0 ед. ОП: ≤ ±1%В диапазоне от 2,0 до 3,0 ед. ОП: ≤ ±1,5%